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GB/T 9352-2008 塑料 热塑性塑料材料试样的压塑

时间:2024-05-24 21:59:07 来源: 标准资料网 作者:标准资料网 阅读:9095
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基本信息
标准名称:塑料 热塑性塑料材料试样的压塑
英文名称:Plastic - Compression moulding of test specimens of thermoplastic materials
中标分类: 化工 >> 合成材料 >> 合成树脂、塑料基础标准与通用方法
ICS分类: 橡胶和塑料工业 >> 塑料 >> 热塑性塑料
替代情况:替代GB/T 9352-1988
发布部门:中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局 中国国家标准化管理委员会
发布日期:2008-08-04
实施日期:2009-04-01
首发日期:1988-06-14
作废日期:
主管部门:全国塑料标准化技术委员会石化塑料树脂产品分会(SAC/TC 15/SC 1)
提出单位:中国石油化工集团公司
归口单位:全国塑料标准化技术委员会石化塑料树脂产品分会(SAC/TC 15/SC 1)
起草单位:中国石化北京燕山分公司树脂应用研究所、四川大学、中蓝晨光化工研究院有限公司
起草人:陈宏愿、吴世见、王建东、张昌怡、于洋、苗翠霞、王晓丽、张友玲
出版社:中国标准出版社
出版日期:2009-04-01
页数:9页
计划单号:20063814-T-606
适用范围

本标准于1988年首次发布,本次为第一次修订。本标准是等同采用ISO 293:2004《塑料——热塑性塑料压塑试样的制备》(英文版)。
本标准代替GB/T 9352-1988《热塑性塑料压塑试样的制备》。
本标准与GB/T 9352-1988技术内容一致,仅做了编辑性修改。

本标准规定了制备热塑性塑料模压试样和试片的一般原理和步骤,试样可以通过机加工或冲压的方法从试片上获得。

前言

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目录

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引用标准

下列文件中的条款通过本标准的引用而成为本标准的条款。凡是注日期的引用文件,其随后所有的修改单(不包括勘误的内容)或修订版均不适用于本标准,然而,鼓励根据本标准达成协议的各方研究是否可使用这些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件,其最新版本适用于本标准。
GB/T 3505-2000 产品几何技术规范(GPS) 表面结构轮廓法 表面结构的术语、定义及参数(eqvISO4287:1997)
ISO286-1 产品几何量技术规范(GPS)---ISO 极限和配合系统---第1 部分:公差、偏差和配合基础(1988)

所属分类: 化工 合成材料 合成树脂 塑料基础标准与通用方法 橡胶和塑料工业 塑料 热塑性塑料
MIL-S-17000N (SUPPLEMENT 1), MILITARY SPECIFICATION: SWITCHING EQUIPMENT, COMBAT SYSTEM, COMMAND AND CONTROL, FIRE CONTROL, AND INTERIOR COMMUNICATION, GENERAL SPECIFICATION FOR (2 MAY 1983) [SUPERSEDING MIL-S-15001G]., This supplement forms a part of military specification MIL-S-17000N, dated 2 May 1983.【英文标准名称】:Detailspecificationforsiliconvoltageregulatordiodes-1.0W,3.3to33V(5%),hermeticallysealed-Fullassessmentlevel
【原文标准名称】:硅稳压器二极管详细规范.1.0W、3.3~33V(5%)、密封.全面评定级
【标准号】:BS9305N044-1974
【标准状态】:现行
【国别】:英国
【发布日期】:1974-04-15
【实施或试行日期】:1974-04-15
【发布单位】:英国标准学会(GB-BSI)
【起草单位】:BSI
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:认可试验;评估的质量;质量评估;尺寸;二极管;电流;电性质和电现象;电阻;电子设备及元件;气密密封;检验;作标记;资格鉴定;质量保证体系;质量控制;额定功率;额定值;半导体器件;半导体二极管;统计质量控制;温度;测试条件;电压;基准电压二极管;工作范围
【英文主题词】:Approvaltesting;Assessedquality;Dimensions;Diodes;Electriccurrent;Electricalpropertiesandphenomena;Electricalresistance;Electronicequipmentandcomponents;Hermeticsealing;Inspection;Marking;Qualificationapproval;Qualityassurancesystems;Qualitycontrol;Ratedpower;Ratings;Semiconductordevices;Semiconductordiodes;Statisticalqualitycontrol;Temperature;Testingconditions;Voltage;Voltage-referencediodes;Workingrange
【摘要】:Ratings,characteristicsandtestrequirements.Semiconductordevicesofassessedquality.
【中国标准分类号】:L41
【国际标准分类号】:31_080_10
【页数】:10P.;A4
【正文语种】:英语